Микроскоп для инспекции в электронике

Nikon Eclipse L200 - новый микроскоп для lC инспекции пластин, фотомасок и других задач в электронике. L200D - модификация с комбинированным отраженным/проходящим светом. Возможна комплектация автоматическим загрузчиком пластин. Максимальные размеры образца: диаметр 200 мм. Кратность увеличения: 500-1000x (в зависимости от комбинации окуляра и объектива). Контраст темное поле входит в базовую комплектацию.