Приставки для РЭМ JSM-6x10
Элементный анализ с помощью ЭДС (OXFORD INCA Energy)
Количественный анализ легких элементов с помощью ВДС (OXFORD INCA Wave)
Изучение ориентации микрокристаллов с помощью системы регистрации картин ДОРЭ (OXFORD HKL)
Приставки для механических испытаний (GATAN)
Приставки для термических испытаний (JEOL, GATAN, DEBEN)
Катодолюминесцентные приставки и приставки для изучения образцов в режиме наведенного тока (GATAN)
и многие другие
|